2022年07月27日 / Last updated : 2022年07月27日 nishi 新着情報 JEM-ARM200F Cold FE STEM 利用再開のお知らせ 軽元素対応型高分解能走査透過型電子顕微鏡は利用可能となりました。 なお、EDSにつきましては8月中旬以降の再開を予定しておりますので EDSの利用を希望される場合には予約の際にご連絡願います。
2022年06月16日 / Last updated : 2022年06月16日 nishi 新着情報 JEM-2100F(クライオホルダー)利用再開のお知らせ クライオ透過型電子顕微鏡JEM-2100Fのクライオトランスファーフォルダーが利用可能になりました。 予約を再開します。
2022年05月18日 / Last updated : 2022年05月18日 nishi 新着情報 “東京大学・リガク産学連携室 2022年度 Ｘ線解析セミナーのご案内” 東京大学・リガク産学連携室では、Ｘ線による材料評価や構造決定について、 分析手法の理解と測定技術の習得・向上をめざしたＸ線解析セミナーを開催してまいりました。 今回は、これからＸ線回折をはじめようとされている方を対象とし […]
2022年04月12日 / Last updated : 2022年04月12日 nishi 新着情報 装置メンテナンス完了のお知らせ 下記の装置が利用可能になりましたのでお知らせいたします。 ・有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 JEM-1400 ・高分解能トップエントリー型透過型電子顕微鏡 JEM-2000EX
2022年04月08日 / Last updated : 2022年04月11日 nishi 新着情報 JEM-2800（EDS）利用停止 のお知らせ 現在、走査透過型分析電子顕微鏡 JEM-2800のEDSが検出器の故障により利用停止しております。 EDS以外の観察やEELSにつきましては利用可能です。 EDSの復旧時期は半年以上先で長期に渡る見込みです。 復旧しまし […]