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環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F Cold FE Dual SDD STEM 日本電子製◯加速電圧 200 kV ◯収差補正STEM ◯Dual SDD、EELS ◯Cold FE ◯STEM分解能: 明視野格子像 0.10 nm、暗視野格子像 0.10 nm高感度半導体Ｘ線検出器を２つ搭載しています。高い空間分解能での結晶性物質の各原子コラムの元素分析が可能です。 |
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軽元素対応型高分解能走査透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F Cold FE STEM 日本電子製◯加速電圧 200 kV ◯収差補正STEM ◯single SDD、EELS ◯STEM分解能： 暗視野格子像 0.078 nm高い像分解能を持ち、軽元素コラム位置の可視化や格子欠陥等の局所構造解析に威力を発揮します。 |
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原子分解能元素マッピング構造解析装置JEM-ARM200F Thermal FE STEM○加速電圧 200 kV ○収差補正走査透過型電子顕微鏡 ○single SDD、EELS ○STEM分解能：暗視野格子像0.08mm高い像分解能を持ち、軽元素コラム位置の可視化、格子欠陥等の局所構造解析、元素マッピング等に威力を発揮します。 |
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超高分解能透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F TEM 日本電子製◯加速電圧 200 kV ◯収差補正透過型電子顕微鏡 ◯TEM分解能： 格子像 0.11 nm結像系レンズが収差補正された高分解能透過型電子顕微鏡法によって微細構造解析が可能です。 |
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走査透過型分析電子顕微鏡JEM-2800 日本電子製◯加速電圧 200 kV ◯TEM、STEM、SEM ◯電子回折、EDS、EELS ◯STEM分解能： 明視野格子像 0.2 nm顕微鏡操作にコンピューターによる自動化を導入、容易な操作と高性能を両立しています。原子構造解析、元素マッピングが可能です。 |
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原子直視型超高圧電子顕微鏡JEM-ARM1250 日本電子製◯加速電圧 1250 kV ◯LaB6 フィラメント ◯TEM分解能: 粒子像 0.1 nm ◯シートフィルムによる撮影高い加速電圧による厚い試料の観察が可能です。 |
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高分解能透過型分析電子顕微鏡JEM-4010 日本電子製◯加速電圧 400 kV ◯LaB6 フィラメント ◯TEM分解能: 粒子像 0.155 nm ◯EDS分析およびシートフィルムによる撮影安定した対物レンズにより高コントラストな高分解能電子顕微鏡観察が可能です。 |
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高分解能分析電子顕微鏡JEM-2010F 日本電子製◯加速電圧 200 kV ◯Thermal FE、EDS ◯TEM分解能: 格子像 0.10 nm ◯CCDカメラおよびシートフィルム利用可操作が容易な標準的分析および高分解能透過型電子顕微鏡です。 |
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高分解能トップエントリー型透過型電子顕微鏡JEM-2000EX 日本電子製◯加速電圧 200 kV ◯LaB6 フィラメント ◯TEM分解能: 格子像 0.1 nm ◯CCDカメラおよびシートフィルム利用可最大６つの試料を同時に装填でき、トップエントリーならではの安定した高分解能電子顕微鏡観察が可能です。 |
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ハイコントラスト透過型電子顕微鏡JEM-2010HC 日本電子製◯加速電圧 200 kV ◯LaB6 フィラメント ◯TEM分解能: 格子像 0.14 nm ◯EDS、CCDカメラおよびシートフィルム利用可操作が容易な標準的透過型電子顕微鏡として、形態観察、形状観察、格子欠陥観察、長いカメラ長、g・b解析などの格子欠陥解析が容易に行えるハイコントラスト仕様です。 |