東京大学があなたの実験室になる。
■学内・学外・企業問わず、どなたでも実験施設を利用可能
■機器や技術はスタッフがサポート
■ナノ加工・ナノスケール観察・ナノ分析の装置をラインナップ
■データ保存・管理・解析のための高性能データシステムを利用可能
NEWS
お知らせ
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XPS(VersaProbeⅢ)予約方法変更のお知らせ(2025/04~)
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環境制御マニュアルプローバステーションにおける半導体特性評価システム4200-SCSの...
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令和7年度 新規利用課題申請説明会資料_質問回答付き
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3/24(月)14:00~15:00【ARIM東京大学利用者各位】 令和7年度 新規利...
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今年度の装置ご利用終了日について
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XPS(VersaProbeⅢ)予約方法変更のお知らせ(2025/04~)
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環境制御マニュアルプローバステーションにおける半導体特性評価システム4200-SCSの...
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今年度の装置ご利用終了日について
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今年度の新規課題申請の受付について
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東京大学 PRESS RELEASES 材料研究DXを加速するARIM-mdxデータシ...
ACTIVITY
活動案内
当部門では、最先端計測評価装置の利用技術の情報交換の場を設けており、
毎年以下のように講演会、講習会等を行って、最新の解析技術を利用者間で共有するようにしています。