FACILITIES

設備案内

共用設備料金表

設備名称 設備のID番号 単価 課金額(データ提供あり) 課金額(データ提供なし)
機器利用 技術補助 技術代行 機器利用 技術補助 技術代行
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡(NEO ARM) UT-001 1日 48,000 96,000 240,000 72,000 144,000 360,000
軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡(JEM-ARM200F ColdFE) UT-002 1日 28,800 57,600 144,000 43,200 86,400 216,000
超高分解能透過型電子顕微鏡(JEM-ARM200F Cold FE) UT-003 1日 24,000 48,000 120,000 36,000 72,000 180,000
環境対応型超高分解能電子顕微鏡 UT-004 1日 48,000 96,000 240,000 72,000 144,000 360,000
原子分解能元素マッピング構造解析装置(JEM-ARM200F Thermal FE(STEM SDD)) UT-005 1日 24,000 48,000 120,000 36,000 72,000 180,000
ハイスループット電子顕微鏡 透過/走査型分析電子顕微鏡(JEM-2800) UT-006 1日 17,600 35,200 88,000 26,400 52,800 132,000
高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F) UT-007 1日 9,600 19,200 48,000 14,400 28,800 72,000
高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡(JEM-2000EXⅡ) UT-008 1日 2,400 4,800 24,000 3,600 7,200 36,000
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC) UT-009 1日 2,400 4,800 24,000 3,600 7,200 36,000
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 UT-010 1日 20,000 40,000 100,000 30,000 60,000 150,000
有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM JEM-1400) UT-011 1日 6,400 12,800 32,000 9,600 19,200 48,000
原子直視型超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM1250) UT-401 1日 40,000 80,000 200,000 60,000 120,000 300,000
高分解能透過型分析電子顕微鏡(JEM-4010) UT-402 1日 9,600 19,200 48,000 14,400 28,800 72,000
低損傷走査型分析電子顕微鏡(JSM-7500FA) UT-101 1時間 1,200 2,400 6,000 1,800 3,600 9,000
高分解能走査型分析電子顕微鏡(JSM-7800F-PRIME) UT-102 1時間 1,400 2,800 7,000 2,000 4,000 10,000
高分解能走査型電子顕微鏡(JSM-7000F(EBSD)) UT-103 1時間 1,200 2,400 6,000 1,800 3,600 9,000
低真空走査型電子顕微鏡(JSM-6510LA) UT-104 1時間 700 1,400 3,500 1,000 2,000 5,000
FIB JIB-4600F(FIB加工) UT-151 1時間 1,900 3,800 9,500 2,800 5,600 14,000
電子顕微鏡用試料作製装置FIB XVision200TB(FIB-SEM仕様) UT-152 1時間 3,200 6,400 16,000 4,800 9,600 24,000
クロスセクションポリッシャー(CP)JEOL SM-09010 09020 UT-153 1件 1,700 3,400 34,000 2,500 5,000 50,000
イオンスライサー JEOL EM-09100IS UT-154 1日 4,800 9,600 48,000 7,200 14,400 72,000
クライオイオンスライサー(Cryo-IS) JEOL IB-09060CIS UT-155 1日 4,800 9,600 48,000 7,200 14,400 72,000
ウルトラミクロトーム(UC7型) UT-403 1件 4,000 8,000 40,000 6,000 12,000 60,000
NanoMill Model 1040(Fishione Instruments) UT-404 1時間 1,200 2,400 6,000 1,800 3,600 9,000
無機微小結晶構造解析装置(VariMax Dual) UT-201 1時間 1,600 3,200 8,000 2,400 4,800 12,000
高輝度In-plane型X線回折装置(SmartLab(9kW)) UT-202 0.5日 5,760 11,520 28,800 8,640 17,280 43,200
粉末X線回折装置(SmartLab (3kW)) UT-203 0.5日 5,760 11,520 28,800 8,640 17,280 43,200
粉末X線回折装置(SmartLab (Kα1)) UT-451 0.5日 5,760 11,520 28,800 8,640 17,280 43,200
多機能走査型X線光電子分光分析装置XPSwithAES (PHI 5000)VersaProbeⅢ UT-308 1時間 2,400 4,800 24,000 3,600 7,200 36,000
多機能走査型X線光電子分光分析装置XPS (PHI 5000)VersaProbeⅠ UT-301 1時間 2,400 4,800 24,000 3,600 7,200 36,000
電子スピン共鳴装置(JES-FA300) UT-302 1日 12,000 24,000 120,000 18,000 36,000 180,000
分光エリプソメータM-2000U(J.A.Woollam) UT-303 1日 4,000 8,000 40,000 6,000 12,000 60,000
極限環境下電磁物性計測装置PPMS UT-304 1日 16,000 32,000 80,000 24,000 48,000 120,000
環境制御マニュアルプローバステーション UT-305 1時間 1,200 2,400 6,000 1,800 3,600 9,000
超微量元素計測システム(NanoSIMS 50L) UT-306 1日 57,600 115,200 288,000 86,400 172,800 432,000
超微量元素計測システム(NanoSIMS(予備分析)) UT-306 1日 10,000 10,000 10,000 10,000 10,000 10,000