FACILITIES
設備案内
共用設備料金表
設備名称 | 設備のID番号 | 単価 | 課金額(データ提供あり) | 課金額(データ提供なし) | ||||
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機器利用 | 技術補助 | 技術代行 | 機器利用 | 技術補助 | 技術代行 | |||
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡(NEO ARM) | UT-001 | 1日 | 48,000 | 96,000 | 240,000 | 72,000 | 144,000 | 360,000 |
軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡(JEM-ARM200F ColdFE) | UT-002 | 1日 | 28,800 | 57,600 | 144,000 | 43,200 | 86,400 | 216,000 |
超高分解能透過型電子顕微鏡(JEM-ARM200F Cold FE) | UT-003 | 1日 | 24,000 | 48,000 | 120,000 | 36,000 | 72,000 | 180,000 |
環境対応型超高分解能電子顕微鏡 | UT-004 | 1日 | 48,000 | 96,000 | 240,000 | 72,000 | 144,000 | 360,000 |
原子分解能元素マッピング構造解析装置(JEM-ARM200F Thermal FE(STEM SDD)) | UT-005 | 1日 | 24,000 | 48,000 | 120,000 | 36,000 | 72,000 | 180,000 |
ハイスループット電子顕微鏡 透過/走査型分析電子顕微鏡(JEM-2800) | UT-006 | 1日 | 17,600 | 35,200 | 88,000 | 26,400 | 52,800 | 132,000 |
高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F) | UT-007 | 1日 | 9,600 | 19,200 | 48,000 | 14,400 | 28,800 | 72,000 |
高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡(JEM-2000EXⅡ) | UT-008 | 1日 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC) | UT-009 | 1日 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 | UT-010 | 1日 | 20,000 | 40,000 | 100,000 | 30,000 | 60,000 | 150,000 |
有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM JEM-1400) | UT-011 | 1日 | 6,400 | 12,800 | 32,000 | 9,600 | 19,200 | 48,000 |
原子直視型超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM1250) | UT-401 | 1日 | 40,000 | 80,000 | 200,000 | 60,000 | 120,000 | 300,000 |
高分解能透過型分析電子顕微鏡(JEM-4010) | UT-402 | 1日 | 9,600 | 19,200 | 48,000 | 14,400 | 28,800 | 72,000 |
低損傷走査型分析電子顕微鏡(JSM-7500FA) | UT-101 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
高分解能走査型分析電子顕微鏡(JSM-7800F-PRIME) | UT-102 | 1時間 | 1,400 | 2,800 | 7,000 | 2,000 | 4,000 | 10,000 |
高分解能走査型電子顕微鏡(JSM-7000F(EBSD)) | UT-103 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
低真空走査型電子顕微鏡(JSM-6510LA) | UT-104 | 1時間 | 700 | 1,400 | 3,500 | 1,000 | 2,000 | 5,000 |
FIB JIB-4600F(FIB加工) | UT-151 | 1時間 | 1,900 | 3,800 | 9,500 | 2,800 | 5,600 | 14,000 |
電子顕微鏡用試料作製装置FIB XVision200TB(FIB-SEM仕様) | UT-152 | 1時間 | 3,200 | 6,400 | 16,000 | 4,800 | 9,600 | 24,000 |
クロスセクションポリッシャー(CP)JEOL SM-09010 09020 | UT-153 | 1件 | 1,700 | 3,400 | 34,000 | 2,500 | 5,000 | 50,000 |
イオンスライサー JEOL EM-09100IS | UT-154 | 1日 | 4,800 | 9,600 | 48,000 | 7,200 | 14,400 | 72,000 |
クライオイオンスライサー(Cryo-IS) JEOL IB-09060CIS | UT-155 | 1日 | 4,800 | 9,600 | 48,000 | 7,200 | 14,400 | 72,000 |
ウルトラミクロトーム(UC7型) | UT-403 | 1件 | 4,000 | 8,000 | 40,000 | 6,000 | 12,000 | 60,000 |
NanoMill Model 1040(Fishione Instruments) | UT-404 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
無機微小結晶構造解析装置(VariMax Dual) | UT-201 | 1時間 | 1,600 | 3,200 | 8,000 | 2,400 | 4,800 | 12,000 |
高輝度In-plane型X線回折装置(SmartLab(9kW)) | UT-202 | 0.5日 | 5,760 | 11,520 | 28,800 | 8,640 | 17,280 | 43,200 |
粉末X線回折装置(SmartLab (3kW)) | UT-203 | 0.5日 | 5,760 | 11,520 | 28,800 | 8,640 | 17,280 | 43,200 |
粉末X線回折装置(SmartLab (Kα1)) | UT-451 | 0.5日 | 5,760 | 11,520 | 28,800 | 8,640 | 17,280 | 43,200 |
多機能走査型X線光電子分光分析装置XPSwithAES (PHI 5000)VersaProbeⅢ | UT-308 | 1時間 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
多機能走査型X線光電子分光分析装置XPS (PHI 5000)VersaProbeⅠ | UT-301 | 1時間 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
電子スピン共鳴装置(JES-FA300) | UT-302 | 1日 | 12,000 | 24,000 | 120,000 | 18,000 | 36,000 | 180,000 |
分光エリプソメータM-2000U(J.A.Woollam) | UT-303 | 1日 | 4,000 | 8,000 | 40,000 | 6,000 | 12,000 | 60,000 |
極限環境下電磁物性計測装置PPMS | UT-304 | 1日 | 16,000 | 32,000 | 80,000 | 24,000 | 48,000 | 120,000 |
環境制御マニュアルプローバステーション | UT-305 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
超微量元素計測システム(NanoSIMS 50L) | UT-306 | 1日 | 57,600 | 115,200 | 288,000 | 86,400 | 172,800 | 432,000 |
超微量元素計測システム(NanoSIMS(予備分析)) | UT-306 | 1日 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 |