FACILITIES

設備案内

共用設備料金表(税込金額)

設備名称 設備のID番号 単価 課金額(データ提供あり) 課金額(データ提供なし)
機器利用 技術補助 技術代行 機器利用 技術補助 技術代行
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (NEO ARM) UT-001 1日 53,000 106,000 265,000 79,500 159,000 397,500
軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE UT-002 1日 32,000 64,000 160,000 48,000 96,000 240,000
超高分解能透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE UT-003 1日 25,000 50,000 125,000 37,500 75,000 187,500
環境対応型超高分解能電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE(STEM Double SDD) UT-004 1日 53,000 106,000 265,000 79,500 159,000 397,500
原子分解能元素マッピング構造解析装置JEM-ARM200F Thermal FE(STEM SDD) UT-005 1日 27,000 54,000 135,000 40,500 81,000 202,500
多機能電界放出形透過電子顕微鏡JEM-F200 UT-012 1日 21,000 42,000 105,000 31,500 63,000 157,500
透過/走査型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800 UT-006 1日 15,000 30,000 75,000 22,500 45,000 112,500
高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F) UT-007 1日 12,000 24,000 60,000 18,000 36,000 90,000
透過走査型電子顕微鏡(JEM-2100F) UT-010 1日 12,000 24,000 60,000 18,000 36,000 90,000
クライオ透過型電子顕微鏡JEM-2100F UT-010 1日 24,000 48,000 120,000 36,000 72,000 180,000
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC) UT-009 1日 3,000 6,000 15,000 4,500 9,000 22,500
有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM JEM-1400) UT-011 1日 8,000 16,000 40,000 12,000 24,000 60,000
低損傷走査型分析電子顕微鏡(JSM-7500FA) UT-101 1時間 1,500 3,000 7,500 2,300 4,600 11,500
高分解能走査型分析電子顕微鏡(JSM-7800F-PRIME) UT-102 1時間 1,700 3,400 8,500 2,600 5,200 13,000
高分解能走査型分析電子顕微鏡(JSM-IT800SHL) UT-105 1時間 2,200 4,400 11,000 3,300 6,600 16,500
高分解能走査型電子顕微鏡(JSM-7000F(EBSD)) UT-103 1時間 1,500 3,000 7,500 2,300 4,600 11,500
低真空走査型電子顕微鏡(JSM-6510LA) UT-104 1時間 1,000 2,000 5,000 1,500 3,000 7,500
電子顕微鏡用試料作製装置FIB XVision200TB(FIB-SEM使用) UT-152 1時間 4,000 8,000 20,000 6,000 12,000 30,000
クロスセクションポリッシャー(CP)断面ミリング UT-153 1件 3,000 6,000 15,000 4,500 9,000 22,500
集束イオン/電子ビーム 複合ビーム加工観察装置(JIB-PS500i) UT-156 1時間 4,000 8,000 20,000 6,000 12,000 30,000
イオンスライサー JEOL EM-09100IS UT-154 1日 5,800 11,600 29,000 8,700 17,400 43,500
イオンミリングPIPSⅡ UT-157 1日 6,500 13,000 32,500 9,750 19,500 48,750
クロスセクションポリッシャー(CP)広域断面ミリング(室温) UT-158 1件 6,700 13,400 33,500 10,050 20,100 50,250
クロスセクションポリッシャー(CP)冷却断面ミリング UT-158 1件 5,400 10,800 27,000 8,100 16,200 40,500
クロスセクションポリッシャー(CP)平面ミリング UT-158 1件 1,700 3,400 8,500 2,550 5,100 12,750
無機微小結晶構造解析装置(VariMax Dual) UT-201 1時間 2,000 4,000 10,000 3,000 6,000 15,000
高輝度In-plane型X線回折装置(SmartLab(9kW)) UT-202 0.5日 7,000 14,000 35,000 10,500 21,000 52,500
粉末X線回折装置(SmartLab (3kW)) UT-203 0.5日 7,000 14,000 35,000 10,500 21,000 52,500
粉末X線回折装置(SmartLab (Kα1)) UT-204 0.5日 7,000 14,000 35,000 10,500 21,000 52,500
電子スピン共鳴装置(JES-FA300) UT-302 1日 14,400 28,800 72,000 21,600 43,200 108,000
分光エリプソメータM-2000U(J.A.Woollam) UT-303 1日 4,800 9,600 24,000 7,200 14,400 36,000
極限環境下電磁物性計測装置PPMS UT-304 1日 19,200 38,400 96,000 28,800 57,600 144,000
環境制御マニュアルプローバステーション UT-305 1時間 1,500 3,000 7,500 2,200 4,400 11,000
超微量元素計測システム(NanoSIMS 50L) UT-306 1日 64,000 128,000 320,000 96,000 192,000 480,000
超微量元素計測システム(NanoSIMS(予備分析)) UT-306 1日 10,000 20,000 50,000 10,000 20,000 50,000
多機能走査型X線光電子分光分析装置XPSwithAES (PHI 5000)VersaProbeⅢ UT-308 1時間 2,900 5,800 14,500 4,400 8,800 22,000
原子直視型超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM1250) UT-401 1日 44,000 88,000 220,000 66,000 132,000 330,000
ウルトラミクロトーム(UC7型) UT-403 1日 1,000 2,000 5,000 1,500 3,000 7,500
STEM/TEM用特殊ホルダー(試料冷却、試料加熱、大気非暴露、トモグラフィー) - 1日 5,000
3D解析ソフト使用料(Amira、TEMography) - 時間 1,000
グローブボックス - 1件 5,000

令和6年4月1日改定