FACILITIES
設備案内
共用設備料金表
| 設備名称 | 設備のID番号 | 単価 | 課金額（データ提供あり） | 課金額（データ提供なし） | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 機器利用 | 技術補助 | 技術代行 | 機器利用 | 技術補助 | 技術代行 | |||
| 低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡（NEO ARM） | UT-001 | 1日 | 48,000 | 96,000 | 240,000 | 72,000 | 144,000 | 360,000 |
| 軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡（JEM-ARM200F ColdFE） | UT-002 | 1日 | 28,800 | 57,600 | 144,000 | 43,200 | 86,400 | 216,000 |
| 超高分解能透過型電子顕微鏡（JEM-ARM200F Cold FE） | UT-003 | 1日 | 24,000 | 48,000 | 120,000 | 36,000 | 72,000 | 180,000 |
| 環境対応型超高分解能電子顕微鏡 | UT-004 | 1日 | 48,000 | 96,000 | 240,000 | 72,000 | 144,000 | 360,000 |
| 原子分解能元素マッピング構造解析装置（JEM-ARM200F Thermal FE（STEM SDD）） | UT-005 | 1日 | 24,000 | 48,000 | 120,000 | 36,000 | 72,000 | 180,000 |
| ハイスループット電子顕微鏡 透過/走査型分析電子顕微鏡（JEM-2800） | UT-006 | 1日 | 17,600 | 35,200 | 88,000 | 26,400 | 52,800 | 132,000 |
| 高分解能分析電子顕微鏡（JEM-2010F） | UT-007 | 1日 | 9,600 | 19,200 | 48,000 | 14,400 | 28,800 | 72,000 |
| 高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡（JEM-2000EXⅡ） | UT-008 | 1日 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
| ハイコントラスト透過型電子顕微鏡（JEM-2010HC） | UT-009 | 1日 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
| クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 | UT-010 | 1日 | 20,000 | 40,000 | 100,000 | 30,000 | 60,000 | 150,000 |
| 有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡（Bio-TEM JEM-1400） | UT-011 | 1日 | 6,400 | 12,800 | 32,000 | 9,600 | 19,200 | 48,000 |
| 原子直視型超高圧電子顕微鏡（JEM-ARM1250） | UT-401 | 1日 | 40,000 | 80,000 | 200,000 | 60,000 | 120,000 | 300,000 |
| 高分解能透過型分析電子顕微鏡（JEM-4010） | UT-402 | 1日 | 9,600 | 19,200 | 48,000 | 14,400 | 28,800 | 72,000 |
| 低損傷走査型分析電子顕微鏡（JSM-7500FA） | UT-101 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
| 高分解能走査型分析電子顕微鏡（JSM-7800F-PRIME） | UT-102 | 1時間 | 1,400 | 2,800 | 7,000 | 2,000 | 4,000 | 10,000 |
| 高分解能走査型電子顕微鏡（JSM-7000F（EBSD）） | UT-103 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
| 低真空走査型電子顕微鏡（JSM-6510LA） | UT-104 | 1時間 | 700 | 1,400 | 3,500 | 1,000 | 2,000 | 5,000 |
| FIB JIB-4600F（FIB加工） | UT-151 | 1時間 | 1,900 | 3,800 | 9,500 | 2,800 | 5,600 | 14,000 |
| 電子顕微鏡用試料作製装置FIB XVision200TB（FIB-SEM仕様） | UT-152 | 1時間 | 3,200 | 6,400 | 16,000 | 4,800 | 9,600 | 24,000 |
| クロスセクションポリッシャー（CP）JEOL SM-09010 09020 | UT-153 | 1件 | 1,700 | 3,400 | 34,000 | 2,500 | 5,000 | 50,000 |
| イオンスライサー JEOL EM-09100IS | UT-154 | 1日 | 4,800 | 9,600 | 48,000 | 7,200 | 14,400 | 72,000 |
| クライオイオンスライサー（Cryo-IS） JEOL IB-09060CIS | UT-155 | 1日 | 4,800 | 9,600 | 48,000 | 7,200 | 14,400 | 72,000 |
| ウルトラミクロトーム（UC7型） | UT-403 | 1件 | 4,000 | 8,000 | 40,000 | 6,000 | 12,000 | 60,000 |
| NanoMill Model 1040（Fishione Instruments） | UT-404 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
| 無機微小結晶構造解析装置（VariMax Dual） | UT-201 | 1時間 | 1,600 | 3,200 | 8,000 | 2,400 | 4,800 | 12,000 |
| 高輝度In-plane型X線回折装置（SmartLab（9kW）） | UT-202 | 0.5日 | 5,760 | 11,520 | 28,800 | 8,640 | 17,280 | 43,200 |
| 粉末X線回折装置（SmartLab （3kW）） | UT-203 | 0.5日 | 5,760 | 11,520 | 28,800 | 8,640 | 17,280 | 43,200 |
| 粉末X線回折装置（SmartLab （Kα1）） | UT-451 | 0.5日 | 5,760 | 11,520 | 28,800 | 8,640 | 17,280 | 43,200 |
| 多機能走査型X線光電子分光分析装置XPSwithAES （PHI 5000）VersaProbeⅢ | UT-308 | 1時間 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
| 多機能走査型X線光電子分光分析装置XPS （PHI 5000）VersaProbeⅠ | UT-301 | 1時間 | 2,400 | 4,800 | 24,000 | 3,600 | 7,200 | 36,000 |
| 電子スピン共鳴装置（JES-FA300） | UT-302 | 1日 | 12,000 | 24,000 | 120,000 | 18,000 | 36,000 | 180,000 |
| 分光エリプソメータM-2000U（J.A.Woollam） | UT-303 | 1日 | 4,000 | 8,000 | 40,000 | 6,000 | 12,000 | 60,000 |
| 極限環境下電磁物性計測装置PPMS | UT-304 | 1日 | 16,000 | 32,000 | 80,000 | 24,000 | 48,000 | 120,000 |
| 環境制御マニュアルプローバステーション | UT-305 | 1時間 | 1,200 | 2,400 | 6,000 | 1,800 | 3,600 | 9,000 |
| 超微量元素計測システム（NanoSIMS 50L） | UT-306 | 1日 | 57,600 | 115,200 | 288,000 | 86,400 | 172,800 | 432,000 |
| 超微量元素計測システム（NanoSIMS（予備分析）） | UT-306 | 1日 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 | 10,000 |