FACILITIES
設備案内
共用設備料金表(税込金額)
| 設備名称 | 設備のID番号 | 単価 | 課金額（データ提供あり） | 課金額（データ提供なし） | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 機器利用 | 技術補助 | 技術代行 | 機器利用 | 技術補助 | 技術代行 | |||
| 低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (NEO ARM) | UT-001 | 1日 | 53,000 | 106,000 | 265,000 | 79,500 | 159,000 | 397,500 |
| 軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE | UT-002 | 1日 | 32,000 | 64,000 | 160,000 | 48,000 | 96,000 | 240,000 |
| 超高分解能透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE | UT-003 | 1日 | 25,000 | 50,000 | 125,000 | 37,500 | 75,000 | 187,500 |
| 環境対応型超高分解能電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE（STEM Double SDD) | UT-004 | 1日 | 53,000 | 106,000 | 265,000 | 79,500 | 159,000 | 397,500 |
| 原子分解能元素マッピング構造解析装置JEM-ARM200F Thermal FE(STEM SDD) | UT-005 | 1日 | 27,000 | 54,000 | 135,000 | 40,500 | 81,000 | 202,500 |
| 透過/走査型分析電子顕微鏡（TEM/STEM）JEM-2800 | UT-006 | 1日 | 21,000 | 42,000 | 105,000 | 31,500 | 63,000 | 157,500 |
| 高分解能分析電子顕微鏡（JEM-2010F） | UT-007 | 1日 | 12,000 | 24,000 | 60,000 | 18,000 | 36,000 | 90,000 |
| 高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡（JEM-2000EXⅡ） | UT-008 | 1日 | 3,000 | 6,000 | 15,000 | 4,500 | 9,000 | 22,500 |
| ハイコントラスト透過型電子顕微鏡（JEM-2010HC） | UT-009 | 1日 | 3,000 | 6,000 | 15,000 | 4,500 | 9,000 | 22,500 |
| クライオ透過型電子顕微鏡JEM-2100F | UT-010 | 1日 | 24,000 | 48,000 | 120,000 | 36,000 | 72,000 | 180,000 |
| 透過走査型電子顕微鏡（JEM-2100F） | UT-010 | 1日 | 12,000 | 24,000 | 60,000 | 18,000 | 36,000 | 90,000 |
| 有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡（Bio-TEM JEM-1400） | UT-011 | 1日 | 8,000 | 16,000 | 40,000 | 12,000 | 24,000 | 60,000 |
| 原子直視型超高圧電子顕微鏡（JEM-ARM1250） | UT-401 | 1日 | 44,000 | 88,000 | 220,000 | 66,000 | 132,000 | 330,000 |
| 高分解能透過型分析電子顕微鏡（JEM-4010） | UT-402 | 1日 | 12,000 | 24,000 | 60,000 | 18,000 | 36,000 | 90,000 |
| 低損傷走査型分析電子顕微鏡（JSM-7500FA） | UT-101 | 1時間 | 1,500 | 3,000 | 7,500 | 2,300 | 4,600 | 11,500 |
| 高分解能走査型分析電子顕微鏡（JSM-7800F-PRIME） | UT-102 | 1時間 | 1,700 | 3,400 | 8,500 | 2,600 | 5,200 | 13,000 |
| 高分解能走査型電子顕微鏡（JSM-7000F（EBSD）） | UT-103 | 1時間 | 1,500 | 3,000 | 7,500 | 2,300 | 4,600 | 11,500 |
| 低真空走査型電子顕微鏡（JSM-6510LA） | UT-104 | 1時間 | 1,000 | 2,000 | 5,000 | 1,500 | 3,000 | 7,500 |
| 集束イオン／電子ビーム 複合ビーム加工観察装置（JIB-4600F） | UT-151 | 1時間 | 4,000 | 8,000 | 20,000 | 6,000 | 12,000 | 30,000 |
| 電子顕微鏡用試料作製装置FIB XVision200TB（FIB-SEM使用） | UT-152 | 1時間 | 4,000 | 8,000 | 20,000 | 6,000 | 12,000 | 30,000 |
| クロスセクションポリッシャー（CP）JEOL SM-090010 090020 | UT-153 | 1件 | 2,000 | 4,000 | 10,000 | 3,000 | 6,000 | 15,000 |
| イオンスライサー JEOL EM-09100IS | UT-154 | 1日 | 5,800 | 11,600 | 29,000 | 8,700 | 17,400 | 43,500 |
| クライオイオンスライサー（Cryo-IS） JEOL IB-09060CIS | UT-155 | 1日 | 5,800 | 11,600 | 29,000 | 8,700 | 17,400 | 43,500 |
| ウルトラミクロトーム（UC7型） | UT-403 | 1日 | 1,000 | 2,000 | 5,000 | 1,500 | 3,000 | 7,500 |
| TEM試料調製システム ナノミル（NanoMill Model 1040） | UT-404 | 1時間 | 2,000 | 4,000 | 10,000 | 3,000 | 6,000 | 15,000 |
| 無機微小結晶構造解析装置（VariMax Dual） | UT-201 | 1時間 | 2,000 | 4,000 | 10,000 | 3,000 | 6,000 | 15,000 |
| 高輝度In-plane型X線回折装置（SmartLab（9kW）） | UT-202 | 0.5日 | 7,000 | 14,000 | 35,000 | 10,500 | 21,000 | 52,500 |
| 粉末X線回折装置（SmartLab （3kW）） | UT-203 | 0.5日 | 7,000 | 14,000 | 35,000 | 10,500 | 21,000 | 52,500 |
| 粉末X線回折装置（SmartLab （Kα1）） | UT-451 | 0.5日 | 7,000 | 14,000 | 35,000 | 10,500 | 21,000 | 52,500 |
| 多機能走査型X線光電子分光分析装置XPS （PHI 5000） | UT-301 | 1時間 | 2,900 | 5,800 | 14,500 | 4,400 | 8,800 | 22,000 |
| 多機能走査型X線光電子分光分析装置XPSwithAES （PHI 5000）VersaProbeⅢ | UT-308 | 1時間 | 2,900 | 5,800 | 14,500 | 4,400 | 8,800 | 22,000 |
| 電子スピン共鳴装置（JES-FA300） | UT-302 | 1日 | 14,400 | 28,800 | 72,000 | 21,600 | 43,200 | 108,000 |
| 分光エリプソメータM-2000U（J.A.Woollam） | UT-303 | 1日 | 4,800 | 9,600 | 24,000 | 7,200 | 14,400 | 36,000 |
| 極限環境下電磁物性計測装置PPMS | UT-304 | 1日 | 19,200 | 38,400 | 96,000 | 28,800 | 57,600 | 144,000 |
| 環境制御マニュアルプローバステーション | UT-305 | 1時間 | 1,500 | 3,000 | 7,500 | 2,200 | 4,400 | 11,000 |
| 超微量元素計測システム（NanoSIMS 50L） | UT-306 | 1日 | 64,000 | 128,000 | 320,000 | 96,000 | 192,000 | 480,000 |
| 超微量元素計測システム（NanoSIMS（予備分析）） | UT-306 | 1日 | 10,000 | 20,000 | 50,000 | 10,000 | 20,000 | 50,000 |
| STEM/TEM用特殊ホルダー（試料冷却、試料加熱、大気非暴露、トモグラフィー） | - | 1日 | 5,000 | |||||
| ３D解析ソフト使用料（Amira、TEMography） | - | 時間 | 1,000 | |||||
| グローブボックス | - | 1件 | 5,000 | |||||
令和5年10月1日改定