東京大学・リガク産学連携室では、Ｘ線による材料評価や構造決定について、分析手法の理解と測定技術の習得・向上をめざしたＸ線解析セミナーを開催してまいりました。
薄膜材料のＸ線回折法を学びたい方を対象とし、薄膜Ｘ線回折の入門コースを催行することといたしました。
日々の研究教育活動や材料評価に、Ｘ線回折を導入される一助となれば幸いです。
皆様のご参加をお待ちしています。

題　　目：　 Ｘ線解析セミナー （薄膜Ｘ線回折入門コース）
主　　催：　 東京大学・リガク産学連携室
　　　　　　 東京大学マテリアル先端リサーチインフラ
日　　時：　 2025年 12月11日（木） 13:00 ～ 16:00
開　　催：　 ウェビナー形式によるオンライン講義 （インターネット配信）
定　　員：　 ５００名　（事前登録制）
参加費　：　 無料
プログラム： 基礎編講義　13:05～14:30（14:20～14:30　質疑応答）
X線回折法による薄膜試料評価の概要、粉末Ⅹ線回折法との違い、薄膜評価用Ⅹ線回折装置の装置構成などの説明。
最も一般的なX線回折測定を薄膜試料に適用した①アウトオブプレーン測定（2θ/ωスキャン）の紹介。
応用編講義　 14:40～16:00（15:50～16:00　質疑応答）
微小角入射X線回折法であるGI-XRD測定（2θスキャン）、インプレーン測定の原理と実際の分析事例を交えて解説。

詳細と申し込み方法は当セミナーのホームページをご覧ください。
https://rigaku.com/ja/service-and-support/sangaku/02-sangaku-seminer-xrd-winter-20251211

11月に粉末試料を中心とした、基礎的なXRD解析セミナーを実施しますので、こちらもご参加いただけますと幸いです。
→2025年度冬学期　粉末XRD解析セミナー

講習会に関するお問い合わせ先：

東京大学大学院工学系研究科
総合研究機構　ナノ工学研究センター
〒113-8656 東京都文京区弥生2-11-16 工学部9号館
飯盛桂子（いさがいけいこ）
E-mail : isagai@g.ecc.u-tokyo.ac.jp
Tel　: 03-5841-6372（内線26372）
携帯 : 070-1455-5136

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