各位

東京大学「次世代電子顕微鏡法」社会連携講座では、2023年度より電子顕微鏡セミナー（TEM入門コース）を開講致しました。
先端の材料開発においては、マイクロ・ナノ・原子スケールでの構造解析や化学分析が求められており、電子顕微鏡は必要不可欠な分析技術となって来ました。
本セミナーでは、初学者だけでなく、電子顕微鏡の利用を検討している方、原理等を深く理解し電子顕微鏡実験のステップアップに繋げたい方を対象としています。
具体的には、ハードウェアの解説、電子回折法・明/暗視野法などの基礎に加え、TEMサンプルの作製法，第2回TEMセミナーのご案内実際のサンプルにおける電子顕微鏡の活用方法についてご紹介致します。
また，セミナーの終了後には，意見交換会（懇親会）もございますので，皆様の積極的なご参加をお待ちしております。

日時：2024年10月8日（火）13:00 – 18:00
場所：東京大学・武田先端知ビル５F
定員：150名
参加費：無料
申し込み：https://forms.gle/2cYKnuX1C2HxcfBg9
主催：東京大学・次世代電子顕微鏡法社会連携講座（https://ngem.t.u-tokyo.ac.jp/）
共催：東京大学・日本電子産学連携室、マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM）
お問い合わせ：東京大学・日本電子産学連携室　金子・斎藤（skaneko@jeol.co.jp）

【プログラム】（添付資料を参照）
・開会挨拶：　　　　　　　　　　  　　　 東京大学大学院総合研究機構　石川 亮
・TEMの基礎について：　　　　　　　　　日本電子株式会社　近藤 行人
・TEMのハードウェアについて：　　　　　日本電子株式会社　山本 若菜
・TEMサンプリングについて：　　　　　　日本電子株式会社　河原 尚
・FIBによるTEMサンプリングについて：　 日本電子株式会社　柴田 昌照
・様々なTEM観察法の紹介：             　　　 東京大学・日本電子産学連携室　斎藤 光浩
・意見交換会（懇親会）

第２回電子顕微鏡セミナー