新規ご利用登録
利用者ログイン
マイページ
HOME
概要
概要
実施体制
運営体制図
利用案内
利用案内
設備利用の流れ
よくあるご質問
設備案内
設備一覧
料金表
分析事例
データシステム
ARIM-mdx データシステム
ARIMデータ登録約款
活動
講演会・シンポジウム
講習会
実績
ユーザーズボイス
お問い合わせ
NIMS-ARIM
データ利用について
「ARIMデータ構造化システム(データ登録する方へ知っていただきたいこと)」
利用者ログイン
新規ご利用登録
マイページ
ログアウト
閉じる
FACILITIES
設備案内
走査透過型電子顕微鏡/
透過型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡/
集束イオンビーム走査電子顕微鏡複合装置
X線回折装置
超微量元素分析システム
物理特性/電気特性/表面計測装置
試料作製装置
試料作製装置
UT-153 クロスセクションポリッシャー(CP)断面ミリング
UT-154 イオンスライサー JEOL EM-09100IS
UT-157 イオンミリングPIPSⅡ
UT-158 クロスセクションポリッシャー(CP)広域断面ミリング(室温)
UT-158 クロスセクションポリッシャー(CP)平面ミリング
UT-158 クロスセクションポリッシャー(CP)冷却断面ミリング
UT-158 クロスセクションポリッシャー(CP)大気非暴露断面ミリング
UT-158 クロスセクションポリッシャー(CP)大気非暴露冷却断面ミリング
UT-403 ウルトラミクロトーム(UC7型)
EM UC7 / ライカバイオシステムズ製
・静電気式ピックアップ法
・視認性の高LED照明システム
・ユーセントリック動作を搭載した実体顕微鏡