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設備案内

走査透過型電子顕微鏡/透過型電子顕微鏡

低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (NEO ARM)

低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (NEO ARM)

JEM-ARM200CF / 日本電子

加速電圧 30 - 200 kV
分解能 0.071 nm (200 kV), 0.11 nm (60 kV)
分析機能 EDS, EELS
特長 冷陰極電界放出電子銃
収差補正装置(プローブ補正)
遠隔操作利用可

高感度半導体X線検出器を2つ搭載しています。高い空間分解能での結晶性物質の各原子コラムの元素分析が可能です。

軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE

軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE

JEM-ARM200F ColdFE

加速電圧 200kV / 120kV
分解能 走査透過像(環状型暗視野検出器を使用、加速電圧200kV) 0.08nm
倍率 走査透過像 200~150,000,000倍 / 透過顕微鏡像 50~2,000,000倍
収差補正装置 照射系球面収差補正装置 組み込み
検出器 エネルギー分散形X線分析装置(EDS)、電子線エネルギー損失分光器(EELS)、軽元素対応像検出器、CCD検出器(2k×2k)

 照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能 0.08nmを実現しています。

超高分解能透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE

超高分解能透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE

JEM-ARM200F Cold FE(Cs-HRTEM)

加速電圧 200kV / 120kV / 100kV / 80kV / 60kV
分解能 粒子像透過顕微鏡分解能 0.10nm(加速電圧200kV)
倍率 走査透過像 200~150,000,000倍 / 透過顕微鏡像 50~2,000,000倍
収差補正装置 結像系球面収差補正装置
検出器 CCDカメラ、CMOSカメラ

 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解能0.11nmを実現しています。

環境対応型超高分解能電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE(STEM Double SDD)

環境対応型超高分解能電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE(STEM Double SDD)

日本電子製

加速電圧 200kV、80kV
分解能 TEM格子像 0.10nm
TEM粒子像 0.23nm
STEM明視野格子像 0.136nm
STEM暗視野格子像 0.10nm
倍率 TEM像 50~2,000,000倍
STEM像 200~150,000,000倍
収差補正装置 照射系球面収差補正装置 組み込み
検出器 エネルギー分散形X線分析装置(SDD×2)
電子線エネルギー損失分光器(EELS)
軽元素対応像検出器
CCD検出器(2k×2k、4k×2k)
試料ホルダー 試料2軸傾斜ホルダー
高温加熱通電ホルダー
大気非暴露ホルダー

高感度半導体X線検出器を2つ搭載しています。高い空間分解能での結晶性物質の各原子コラムの元素分析が可能です。

原子分解能元素マッピング構造解析装置JEM-ARM200F Thermal FE(STEM SDD)

原子分解能元素マッピング構造解析装置JEM-ARM200F Thermal FE(STEM SDD)

JEM-ARM200F Thermal FE STEM / 日本電子製

分解能 STEM明視野格子像 0.136nm
STEM暗視野格子像 0.082nm
TEM格子像 0.10nm
TEM粒子像 0.19nm
倍率 STEM像 200~150,000,000倍
TEM像 50~2,000,000倍
収差補正装置 照射系球面収差補正装置 組み込み
検出器 エネルギー分散形X線分析装置 (SDD)
電子線エネルギー損失分光器(EELS)
軽元素対応像検出器
CCD検出器(2k×2k,4k×2k)

高い像分解能を持ち、軽元素コラム位置の可視化、格子欠陥等の局所構造解析、元素マッピング等に威力を発揮します。

透過/走査型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800

透過/走査型分析電子顕微鏡(TEM/STEM)JEM-2800

日本電子(JEOL)製 JEM-2800F

加速電圧 100kV,200kV
CCDカメラ Gatan製Orius(TEM観察用)※不調により利用不可
浜松ホトニクス製(電子線回折用)
EDS Oxford製
EELS Gatan製Enfina1000

高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F)

高分解能分析電子顕微鏡(JEM-2010F)

JEM-2010F / 日本電子製

加速電圧 80, 100, 120, 160, 200kV
電子線源 熱電界放射型
分解能 0.192nm(粒子像)
検出器 EDS、CCDカメラおよびシートフィルム利用可

操作が容易な標準的分析および高分解能透過型電子顕微鏡です。

ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC)

ハイコントラスト透過型電子顕微鏡(JEM-2010HC)

JEM-2010HC / 日本電子製

加速電圧 80、100、120、160、200kV
電子線源 単結晶LaB6フィラメント
検出器 EDS、CCDカメラおよびシートフィルム利用可

操作が容易な標準的透過型電子顕微鏡として、形態観察、形状観察、格子欠陥観察、長いカメラ長、g・b解析などの格子欠陥解析が容易に行えるハイコントラスト仕様です。

クライオ透過型電子顕微鏡JEM-2100F

クライオ透過型電子顕微鏡JEM-2100F

日本電子製

加速電圧 200kV、120kV
電子銃 ショットキー型FE
点分解能 0.31 nm
検出器 EDS
EELS
CCD(4k×4k、1k×1k)
試料ホルダー 極低温観察用クライオトランスファホルダ
トモグラフィ用ホルダー
試料2軸傾斜ホルダー

 生体試料、組織切片、有機材料などソフトマテリアルなどの観察、低温凍結試料観察、トモグラフィー、構造解析、元素分析に利用できます。
 ※Leica EM GP(自動浸漬凍結装置)による氷包埋試料作製、クライオトランスファーホルダーを使う場合はこちらのTEMになります。

透過走査型電子顕微鏡(JEM-2100F)

透過走査型電子顕微鏡(JEM-2100F)

日本電子製

加速電圧 200kV、120kV
電子銃 ショットキー型FE
点分解能 0.31 nm
検出器 EDS
EELS
CCD(4k×4k、1k×1k)
試料ホルダー 極低温観察用クライオトランスファホルダ
トモグラフィ用ホルダー
試料2軸傾斜ホルダー

 生体試料、組織切片、有機材料などソフトマテリアルなどの観察、低温凍結試料観察、トモグラフィー、構造解析、元素分析に利用できます。
 ※上記クライオTEMと装置は同じです。低温観察を行わない場合はこちらの装置となります。

有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM JEM-1400)

有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡(Bio-TEM JEM-1400)

日本電子(JEOL)製 JEM-1400

加速電圧 80~120kV
分解能 0.38nm(粒子像)
その他 オートフォーカス機能 / 自動モンタージュ機能(自動つなぎ合わせ及び自動コントラスト補正、縦5枚×横5枚合計2500万画素が可能)

  生物・高分子材料観察で必須なハイコントラストなTEM像の観察が可能です。自動モンタージュ機能により生体試料などの分解能を維持したままの大面積観察・超高速スクリーニングに対応可能です。オートフォーカス機能があり、初心者でも扱いやすいTEMです。

多機能電界放出形透過電子顕微鏡JEM-F200

原子直視型超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM1250)

原子直視型超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM1250)

JEM-ARM1250 / 日本電子製

加速電圧 100, 150, 200, 250, 300, 350, 400kV
電子線源 単結晶LaB6フィラメント
分解能 0.155nm(粒子像)
画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート(25μm/ピクセル)

高い加速電圧による厚い試料の観察が可能です。