走査透過型電子顕微鏡/透過型電子顕微鏡
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (NEO ARM)
JEM-ARM200CF / 日本電子
| 加速電圧 | 30 - 200 kV |
|---|---|
| 分解能 | 0.071 nm (200 kV), 0.11 nm (60 kV) |
| 分析機能 | EDS, EELS |
| 特長 | 冷陰極電界放出電子銃 収差補正装置（プローブ補正） 遠隔操作利用可 |
高感度半導体Ｘ線検出器を２つ搭載しています。高い空間分解能での結晶性物質の各原子コラムの元素分析が可能です。
軽元素対応型走査透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE
JEM-ARM200F ColdFE
| 加速電圧 | 200kV / 120kV |
|---|---|
| 分解能 | 走査透過像（環状型暗視野検出器を使用、加速電圧200kV） 0.08nm |
| 倍率 | 走査透過像 200～150,000,000倍 / 透過顕微鏡像 50～2,000,000倍 |
| 収差補正装置 | 照射系球面収差補正装置 組み込み |
| 検出器 | エネルギー分散形X線分析装置（EDS）、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k） |
照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能 0.08nmを実現しています。
超高分解能透過型電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE
JEM-ARM200F Cold FE（Cs-HRTEM）
| 加速電圧 | 200kV / 120kV / 100kV / 80kV / 60kV |
|---|---|
| 分解能 | 粒子像透過顕微鏡分解能 0.10nm（加速電圧200kV） |
| 倍率 | 走査透過像 200～150,000,000倍 / 透過顕微鏡像 50～2,000,000倍 |
| 収差補正装置 | 結像系球面収差補正装置 |
| 検出器 | CCDカメラ、CMOSカメラ |
結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解能0.11nmを実現しています。
環境対応型超高分解能電子顕微鏡JEM-ARM200F ColdFE（STEM Double SDD)
日本電子製
| 加速電圧 | 200kV、80kV |
|---|---|
| 分解能 | TEM格子像 0.10nm TEM粒子像 0.23nm STEM明視野格子像 0.136nm STEM暗視野格子像 0.10nm |
| 倍率 | TEM像 50～2,000,000倍 STEM像 200～150,000,000倍 |
| 収差補正装置 | 照射系球面収差補正装置 組み込み |
| 検出器 | エネルギー分散形X線分析装置（SDD×2） 電子線エネルギー損失分光器（EELS） 軽元素対応像検出器 CCD検出器（2k×2k、4k×2k） |
| 試料ホルダー | 試料2軸傾斜ホルダー 高温加熱通電ホルダー 大気非暴露ホルダー |
高感度半導体Ｘ線検出器を２つ搭載しています。高い空間分解能での結晶性物質の各原子コラムの元素分析が可能です。
原子分解能元素マッピング構造解析装置JEM-ARM200F Thermal FE(STEM SDD)
JEM-ARM200F Thermal FE STEM / 日本電子製
| 分解能 | STEM明視野格子像 0.136nm STEM暗視野格子像 0.082nm TEM格子像 0.10nm TEM粒子像 0.19nm |
|---|---|
| 倍率 | STEM像 200～150,000,000倍 TEM像 50～2,000,000倍 |
| 収差補正装置 | 照射系球面収差補正装置 組み込み |
| 検出器 | エネルギー分散形X線分析装置 (SDD) 電子線エネルギー損失分光器（EELS） 軽元素対応像検出器 CCD検出器（2k×2k,4k×2k） |
高い像分解能を持ち、軽元素コラム位置の可視化、格子欠陥等の局所構造解析、元素マッピング等に威力を発揮します。
多機能電界放出形透過電子顕微鏡JEM-F200
JEM-F200 / 日本電子株式会社
| 電子銃 | 冷陰極電界放出形電子銃搭載 加速電圧 200kV･80kV(準備中) |
|---|---|
| 分解能 | 走査透過像 0.16nm,透過像(粒子像) 0.23nm |
| 倍率： | 走査透過像×100～×150,000,000 TEM像×500～×20,000,000 |
| 特長 | ・高感度のSDD検出器2本同時搭載 ・CMOSカメラ、EELS検出器※を装備 ・TEM/STEMトモグラフィー可※ ・非暴露冷却ホルダー対応 ※準備中(利用不可) |
最新のオペレーティングシステムを採用。電子顕微鏡、CMOSカメラ、EDS、EELSを1つのシステムで操作が可能。
透過/走査型分析電子顕微鏡（TEM/STEM）JEM-2800
日本電子(JEOL)製 JEM-2800F
| 加速電圧 | 100kV,200kV |
|---|---|
| CCDカメラ | Gatan製Orius(TEM観察用)※不調により利用不可 浜松ホトニクス製(電子線回折用) |
| EDS | Oxford製 |
| EELS | Gatan製Enfina1000 |
高分解能分析電子顕微鏡（JEM-2010F）
JEM-2010F / 日本電子製
| 加速電圧 | 80, 100, 120, 160, 200kV |
|---|---|
| 電子線源 | 熱電界放射型 |
| 分解能 | 0.192nm（粒子像） |
| 検出器 | EDS、CCDカメラおよびシートフィルム利用可 |
操作が容易な標準的分析および高分解能透過型電子顕微鏡です。
透過走査型電子顕微鏡（JEM-2100F）
日本電子製
| 加速電圧 | 200kV、120kV |
|---|---|
| 電子銃 | ショットキー型FE |
| 点分解能 | 0.31 nm |
| 検出器 | EDS EELS CCD（4k×4k、1k×1k） |
| 試料ホルダー | 極低温観察用クライオトランスファホルダ 試料2軸傾斜ホルダー |
生体試料、組織切片、有機材料などソフトマテリアルなどの観察、低温凍結試料観察、トモグラフィー、構造解析、元素分析に利用できます。
※上記クライオTEMと装置は同じです。低温観察を行わない場合はこちらの装置となります。
クライオ透過型電子顕微鏡JEM-2100F
日本電子製
| 加速電圧 | 200kV、120kV |
|---|---|
| 電子銃 | ショットキー型FE |
| 点分解能 | 0.31 nm |
| 検出器 | EDS EELS CCD（4k×4k、1k×1k） |
| 試料ホルダー | 極低温観察用クライオトランスファホルダ 試料2軸傾斜ホルダー |
生体試料、組織切片、有機材料などソフトマテリアルなどの観察、低温凍結試料観察、トモグラフィー、構造解析、元素分析に利用できます。
※Leica EM GP（自動浸漬凍結装置）による氷包埋試料作製、クライオトランスファーホルダーを使う場合はこちらのTEMになります。
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡（JEM-2010HC）
JEM-2010HC / 日本電子製
| 加速電圧 | 80、100、120、160、200kV |
|---|---|
| 電子線源 | 単結晶LaB6フィラメント |
| 検出器 | EDS、CCDカメラおよびシートフィルム利用可 |
操作が容易な標準的透過型電子顕微鏡として、形態観察、形状観察、格子欠陥観察、長いカメラ長、g・b解析などの格子欠陥解析が容易に行えるハイコントラスト仕様です。
有機材料ハイコントラスト電子顕微鏡（Bio-TEM JEM-1400）
日本電子(JEOL)製 JEM-1400
| 加速電圧 | 80～120kV |
|---|---|
| 分解能 | 0.38nm（粒子像） |
| その他 | オートフォーカス機能 / 自動モンタージュ機能（自動つなぎ合わせ及び自動コントラスト補正、縦5枚×横5枚合計2500万画素が可能） |
生物・高分子材料観察で必須なハイコントラストなTEM像の観察が可能です。自動モンタージュ機能により生体試料などの分解能を維持したままの大面積観察・超高速スクリーニングに対応可能です。オートフォーカス機能があり、初心者でも扱いやすいTEMです。
原子直視型超高圧電子顕微鏡（JEM-ARM1250）
JEM-ARM1250 / 日本電子製
| 加速電圧 | 100, 150, 200, 250, 300, 350, 400kV |
|---|---|
| 電子線源 | 単結晶LaB6フィラメント |
| 分解能 | 0.155nm（粒子像） |
| 画像記録 | シートフィルムおよびイメージングプレート（25μm／ピクセル） |
高い加速電圧による厚い試料の観察が可能です。