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設備案内

X線回折装置

無機微小結晶構造解析装置(VariMax Dual)

無機微小結晶構造解析装置(VariMax Dual)

無機微小結晶構造解析装置VariMax Dual / リガク

X線源 1.2kW発生装置
実効輝度31kW/mm2/
Mo・Cuターゲット
X線光学素子(VariMax Dual) 湾曲型人工多層膜ミラー Mo・Cu両波長に対応した光学素子
検出器 高感度・広ダイナミックレンジ2次元検出器により迅速な測定が可能
特長 シャッターを開放のまま、ゴニオメーター連続駆動をしてのシームレス測定が可能
結晶を-180℃までの冷却が可能

・ これまで放射光でないと回折強度測定が困難であった数十μm角以下の低分子およびタンパ質結晶や一片が10μm以下の結晶などの微小結晶の構造解析が可能
・ 高輝度X線源と湾曲型人工多層膜ミラーの組み合わせにより、結晶位置に高輝度X線を導くことが可能
・ Mo/Cu両方の線源を使用可能であり無機・有機化合物の構造解析を線源に依存することなく測定可能

高輝度In-plane型X線回折装置(SmartLab(9kW))

高輝度In-plane型X線回折装置(SmartLab(9kW))

SmartLab/リガク

X線源 9kW回転対陰極X線発生装置/Cuターゲット
光学系 集中法、多層膜平行ビーム法、薄膜高分解平行ビーム法、インプレーン光学系
検出器 HyPix-3000

・ 高輝度X線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したX線回折装置です。
・ 粉末試料測定に適した集中法光学系,薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系によるX線反射率測定,逆格子マップ測定,ロッキングカーブ測定などを簡単なユニット交換で組み替えて利用することが可能です。
・ インプレーンアームの搭載により、極薄膜の評価や完全極点測定が可能です。

粉末X線回折装置(SmartLab (3kW))

粉末X線回折装置(SmartLab (3kW))

SmartLab/リガク

X線源 3 kW封入型X線管/Cuターゲット
光学系 集中法、多層膜平行ビーム法、インプレーン光学系
検出器 シンチレーション検出器、1次元半導体検出器
加熱オプション AntonPaar製DHS900アタッチメント(室温~900℃)(大気、真空)

・ 粉末試料測定に適した集中法光学系,薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系。
・ In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したX線回折装置。
・ 900℃までの高温測定用アタッチメントも用意している。

粉末X線回折装置(SmartLab (Kα1))

粉末X線回折装置(SmartLab (Kα1))

SmartLab/リガク

X線源 3 kW封入型X線管/Cuターゲット
光学系 集中法、集光法
検出器 シンチレーション検出器、1次元半導体検出器
オプション 対称ヨハンソン型結晶を用いてCu Kα1線に単色化したX線での測定が可能
キャピラリー回転測定が可能
集光ミラーでの透過測定が可能

対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系による高強度、高角度分解能測定が可能。粉末X線回折等に威力を発揮。集光ミラーを使った高強度の透過測定が可能。